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上海深瑞仪器有限公司

 


测试仪表
数字集成电路多值逻辑测试仪
( 型号 : 数字集成电路多值逻辑测试仪 )
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数字集成电路多值逻辑测试仪

测试范围及测试品种:28Pin  54系列; 74系列;  4500系列;4000系列;  RAM 256K BIT  EPROM 64K BIT  C00 系列; 产品主要性能:  在功能测试的基础上 测试器件的输入端注入电流。  测试器件的功耗电流。  测试器件的输入端交叉漏电流。  查找未知芯片型号。  测试器件的输出端:三态“及”OC“门。 可以单次测试,也可以循环测试。  测试器件的输出负载电流。  可自动识别74系列中的CMOS(如:74C,74HC,74HCT等)。 本产品所提供的多值测试参数:  8种可选择的测试电阻。  可设置多种输入端注入电流。  多种测试电压比较值。  功耗测试。  以上参数的不同组合构成的测试模式,其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。 测试模式:  模式O:全组合参数测试。  模式1-C:操作与模式O相同,但各有其不同的测试参数数值。  模式D:任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。  模式E:自检。内容包括计算机部分,显示,键盘及测试管脚电路。  模式F:自编程测试.


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